ICEYE i SATIM wprowadzają nowy produkt. To system AI do analizy zobrazowań SAR

Informacje o autorze

04 września 2025
Udostępnij:

Detect & Classify to nazwa nowego produktu, który do analizy danych SAR stworzyły wspólnie ICEYE i SATIM. Zastosowano w nim rozwiązania sztucznej inteligencji.

ICEYE i SATIM wprowadzają nowy produkt

Polsko-fiński startup ICEYE wspólnie z polską firmą SATIM ogłosiły uruchomienie produktu o nazwie Detect & Classify. To rozwiązanie, które wykorzystuje sztuczną inteligencję w celu przyspieszenia procesu przekształcania zobrazowań satelitarnych w użyteczne informacje wywiadowcze. Firmy dzięki połączeniu swoich doświadczeń wyeliminowały ograniczenia tradycyjnej analizy manualnej.

Detect & Classify od ICEYE i SATIM

Detect & Classify łączy zobrazowania ICEYE z informacjami wygenerowanymi z nich przez narzędzia AI stworzone przez SATIM. Dzięki temu klienci mogą otrzymywać zarówno zobrazowanie radarowe, jak i informacje o wykrytych i rozpoznanych obiektach w jednym, spójnym pakiecie informacji. Wprowadzenie produktu na rynek jest wynikiem wspólnych prac, które rozpoczęły się w lutym 2025 roku.

„Połączenie obszernego katalogu obiektów SATIM z wysokiej jakości zobrazowaniami SAR dostarczanymi przez ICEYE, tworzy potężny produkt, który eliminuje ograniczenia manualnej analizy i zapewnia klientom bezpośredni dostęp do praktycznych informacji wywiadowczych, poprawiając świadomość sytuacyjną i przyspieszając podejmowanie kluczowych decyzji. Obserwujemy znaczący wzrost wykorzystania naszych produktów przez klientów na całym świecie. Nowe rozwiązanie pozwoli rozszerzyć te korzyści na jeszcze szersze grono użytkowników” – powiedział Jacek Strzelczyk, CEO SATIM.

Dokładność nowego systemu przekracza 90 proc. Dzięki temu analitycy wywiadu mogą  szybciej identyfikować powtarzające się schematy lub anomalie zachowań w dużych zbiorach zobrazowań. Rozwiązanie przydatne jest również dla zespołów taktycznych, które mogą szybko lokalizować i klasyfikować obiekty do wskazywania celów.

Polecamy

Więcej w tym dziale: